Indar atomikoaren mikroskopioa
-
indar atomikoa afm mikroskopioa
Marka: NANBEI
Eredua: AFM
Indar atomikoaren mikroskopioa (AFM), material solidoen gainazaleko egitura aztertzeko erabil daitekeen tresna analitikoa, isolatzaileak barne.Substantzia baten gainazaleko egitura eta propietateak aztertzen ditu, probatu beharreko laginaren gainazalaren eta mikro-indar sentikorreko elementu baten arteko elkarrekintza interatomiko oso ahula detektatuz.
